ある工場では、製品Ａの加工精度のバラツキを抑制する目的で新設備を導入した。バラツキが抑制できたかどうかを仮説検定により確認するために、新設備を用いて生産した製品 10 個の加工精度を測定した。
このときに行う仮説検定の手順に関する記述として、最も適切なものはどれか。ただし、従来の設備では、加工精度の分散が 23.5 であった。
- 10 個のデータの分散が 23.5 よりも小さいかどうかを調べる。
- 検定統計量が F 分布に従うことを利用して検定を行う。
- 検定統計量は 10 個のデータから計算される偏差平方和である。
- 対立仮説、有意水準、データ数に基づいて、帰無仮説の棄却域を設定する。
- 対立仮説を σ² ≒ 23.5 と設定する。
解答
エ
解説
- 10 個のデータの分散が 23.5 よりも小さいかどうかを調べる。
不適切です。 - 検定統計量が F 分布に従うことを利用して検定を行う。
不適切です。 - 検定統計量は 10 個のデータから計算される偏差平方和である。
不適切です。 - 対立仮説、有意水準、データ数に基づいて、帰無仮説の棄却域を設定する。
適切です。 - 対立仮説を σ² ≒ 23.5 と設定する。
不適切です。
