JTAG（IEEE 1149.1）の説明として，適切なものはどれか。
- 組合せ回路のテスト生成方式
- テストプローブを用いた導通テストの方法
- バウンダリスキャンテストの標準方式
- ビルトインセルフテストの方式
解答
ウ
解説
ー
- 組合せ回路のテスト生成方式
ー - テストプローブを用いた導通テストの方法
ー - バウンダリスキャンテストの標準方式
ー - ビルトインセルフテストの方式
ー
参考情報
分野・分類
| 分野 | テクノロジ系 |
| 大分類 | コンピュータシステム |
| 中分類 | コンピュータ構成要素 |
| 小分類 | 入出力デバイス |
出題歴
- ES 平成30年度春期 問4
